Поиск:
 

Система мониторинга процесса и анализа толщины пленок ST6000

RU-1000 Рейтинг
Поделитесь страницей в Социальных сетях
Система мониторинга процесса и анализа толщины пленок ST6000
Система мониторинга процесса и анализа толщины пленок ST6000Система измерения толщины пленок была разработана для научных исследований и разработок в лабораториях для измерения толщины тонких пленок, а также в системах контроля качества и мониторинга процесса в линиях по производству; полупроводников, FPD, в нанотехнологий, электронных материалов и специальных пленок. Так, например, в полупроводниковой промышленности, каждая тонкая пленка осажденная на подложке должна быть получена на основе точного дизайна и чертежа. Система анализа толщин тонких пленок используется для контроля процесса изготовления и определения уровня качества продукта путем измерения толщины тонких пленок. Существуют различные методы для измерения толщины пленки: стилусом на основе механической технологии, микроскопические технологии и оптические технологии, как правило, наиболее широко используемые. Измерительная система толщина пленки SpectraThick компании K-MAC, является адаптированной усовершенствованной технологией с использованием оптического метода. Таким образом, явление интерференции между отраженными световыми сигналами на поверхности пленки и поверхностью подложки или разность фаз света определяет свойства пленки. Таким образом, мы можем измерить не только толщину пленки, но и её оптические параметры постоянные. Если пленка прозрачная и поддерживает оптическую интерференцию, то любой образец такой пленки может быть измерен с Spectra Thick профилометром интерферометром компании K-MAC. Толщина каждого слоя многослойной пленки может быть измерена с помощью математического расчета по формулам. Благодаря интуитивно понятному интерфейсу, операция с использованием программного обеспечения позволит очень просто вычислить толщину пленки. Анализ будет неразрущающим, т.е. без ущерба для образца, обладая широким диапазоном толщин от агстрем до десятков микрон.Особенности Размер платформы 370 x 470 мм Диапазон измерений 100 Ангстрем ~ 35 мкм (зависит от типа пленки) Размер пятна 40/20 мкм, 4 мкм(опционально) Скорость измерений 1~2 сек/место Револьверная головка микроскопа Пятиместная Область применения Полимеры : PVA, PET, PP, PR
Диэлектрики : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 ...
Полупроводники : Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
Дисплеи : PR, ITO, SiO2, TiO2, ZrO2, SixNx
Опционально змерение контактных углов
RS измерения с помощью 4-х точечный датчика зонда
Измерение коэффициента пропускания Функциональность Полностью автоматизированное измерения толщины
Автоматическая фокусировка
CCD камера
распознавание образов, паттернов
CIM коммуникация
Вас также могут заинтересовать

Система Персонального Учета и Анализа Персонал

"Система «Персонал» Система Персонального Учета и Анализа «Персонал» предназначена для хранения, поиска, обработки и анализа индивидуализированных описаний отдельных сущностей (личностей, структурных

Системы мониторинга активности и защиты баз данных Database Security Gateway

Линейка SecureSphere DataBase Security Gateway предназначена для мониторинга активности и защиты баз данных Oracle, MS-SQL, IBM DB2, Sybase и Informix. Устройства SecureSphere DataBase Security Gatewa

Система мониторинга процесса и анализа толщины пленок ST8000-MAP

Система мониторинга процесса и анализа толщины пленок ST8000-MAP Система измерения толщины пленок была разработана для научных исследований и разработок в лабораториях для измерения толщины тонких пл

Лабораторная система анализа толщины пленок ST4000-DLX

Лабораторная система анализа толщины пленок ST4000-DLX Система измерения толщины пленок была разработана для научных исследований и разработок в лабораториях для измерения толщины тонких пленок, а та

Лабораторная система анализа толщины пленок ST5030

Лабораторная система анализа толщины пленок ST5030 Система измерения толщины пленок была разработана для научных исследований и разработок в лабораториях для измерения толщины тонких пленок, а также
Внимание!
Информация по Система мониторинга процесса и анализа толщины пленок ST6000 предоставлена компанией-поставщиком РадоНика, ООО. Для того, чтобы получить дополнительную информацию, узнать актуальную цену или условия постаки, нажмите ссылку «Отправить сообщение».
Контакты компании
Страна
Россия
Город
Москва
Адрес
Сокольническая пл, д. 4А
Телефон
+7 (495) 6616109
Сделать запрос
Введите свое имя
Укажите свой Email
Напишите ваш вопрос
Подтвердите согласие