Прямой инспекционный микроскоп для исследования плоских дисплеев и полупроводниковых подложек
|
Поделитесь страницей в Социальных сетях
|
|
Микроскопы Eclipse L300/L300D идеальный инструмент для исследования 17 типов плоских дисплеев и полупроводниковых пластин диаметром до 300мм на наличие дефектов. Модели L300/L300D реализованы на оптической системе CFI60 этот микроскоп обеспечивает картинку великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения. Микроскоп позаимствовал систему единую призмы Senarmont, котрая позволяет проводить исследований по методу DIC простым введением в револьверное устройство одной призмы Номарского. Изображения по методу DIC получаются живыми с минимальным количеством уветовых теней даже на малых увеличениях. Слайдер DIC высококонтрастного типа обеспечивает формирование изображений с бОльшей чувствительностью.
Вас также могут заинтересовать
Тестер обеспечивает снятие вольтамперных характеристик двух-, трех- и четырехполюсников с отображением результатов в графическом виде (исследовательский режим).
Артикул787882523Толщина8МаркаИ 99.9Длина20Ширина50
Артикул1866573154Толщина8МаркаИ 99.9Длина30Ширина100
Артикул1683149736Толщина9МаркаИ 99.9Длина80Ширина30
Артикул3272455808Толщина10МаркаИ 99.9Длина20Ширина50
Внимание!
Информация по Прямой инспекционный микроскоп для исследования плоских дисплеев и полупроводниковых подложек предоставлена компанией-поставщиком Русдорф, ООО. Для того, чтобы получить дополнительную информацию, узнать актуальную цену или условия постаки, нажмите ссылку «Отправить сообщение».
|
