Поиск:
 

Сканирующий атомно-силовой микроскоп

RU-1000 Рейтинг
Поделитесь страницей в Социальных сетях
Сканирующий атомно-силовой микроскоп
"Компания «Голография-Сервис» предлагает Вам услуги атомно-силовой микроскопии для комплексных исследований голограммных оптических элементов (ГОЭ), дифракционных оптических элементов (ДОЭ), киноформных оптических элементов (КОЭ) и других оптических деталей и компонентов с высоким разрешением на воздухе и возможностью расширения конфигурации для измерения в жидкостях и при температуре до 150 оС. Доступные на воздухе измерительные методики •контактная атомно-силовая микроскопия (АСМ); •микроскопия латеральных сил (МЛС); •резонансная АСМ (полуконтактная и безконтактная). Характеристики •поддерживаемый тип сканирования - сканирование образцом; •система автоматического подвода образца; •сменные сканеры. Система автоматического подвода •систему моторизованного подвода; •разъемы термостолика и напряжения смещения; •ручной перемещатель по X, Y с диапазоном позиционирования 5x5 мм; •разрешение позиционирования - 5 мкм. Сменные сканеры •размер области сканирования - 50х50х3 мкм; •диапазон сканирования - 50х50х3 мкм (+/-10); •нелинейность XY - 0,4% (быстрое направление); 0,5% (медленное направление); •Z шум RMS в 1000 Hz полосе < 0,03нм; •материал сканера - титан; •вес образца - до 100г."
Вас также могут заинтересовать

Комплекс, сочетающий в себе атомно-силовой, оптический, конфокальный микроскоп/спектрометр комбинационного рассеяния и флюоресценции

"сканирующий зондовый микроскоп (атомно-силовой микроскоп); традиционный оптический прямой или инвертированный микроскоп; конфокальный лазерный микроскоп; конфокальный микроскоп комбинационного (раман

Атомно-силовой микроскоп Veeco Demension V

Принцип работы атомно-силового микроскопа: Заключается в сканировании поверхности образца атомарно острой иглой (зондом), которая является частью гибкого кронштейна (кантилевера), закрепленного на цил

Сканирующие (растровые) электронные микроскопы

Сканирующие (растровые) электронные микроскопы предназначены для проведения исследований микро- и нано-структуры поверхности различных образцов. Базовое оснащение сканирующих электронных микроскопов п

Атомно-силовые микроскопы

Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп NT-206 представляет собой атомно-силовой микроскоп в комплексе с аппаратными и программными средствами, необходимыми для измерения и анализа микро- и

Электронно-ионные сканирующие микроскопы Quanta 3D

"модифицированные системы на базе сканирующих электронных микроскопов Quanta. Приборы для исследования внутреннего строения объектов и создания стерео изображения образцов без дополнительной программн
Внимание!
Информация по Сканирующий атомно-силовой микроскоп предоставлена компанией-поставщиком Голография-сервис, ООО. Для того, чтобы получить дополнительную информацию, узнать актуальную цену или условия постаки, нажмите ссылку «Отправить сообщение».
Контакты компании
Страна
Россия
Регион
Московская область
Город
Москва
Адрес
Москва, ул. Стромынка, д.18, стр. 2
Телефон
+7 (495) 6170991
Сделать запрос
Введите свое имя
Укажите свой Email
Напишите ваш вопрос
Подтвердите согласие