Спектр-6, ООО - о компании
|
Поделитесь страницей в Социальных сетях
|
|
"СПЕКТР-6 - структурное подразделение научно-исследовательского института интроскопии МНПО "СПЕКТР", сформированное на основе научно исследовательского отдела (НИО-6), носившего название - спецотдел. Главной задачей коллектива "СПЕКТР-6", сформулированной еще в 1967 году и не потерявшей актуальность до настоящего времени, является выполнение и организация работ по проведению научных исследований и созданию безопасных для обслуживающего персонала поисковых аппаратурных средств и комплексов, предназначенных для обнаружения и поиска посторонних включений в оптически непрозрачных средах и основанных на методах интроскопии и НК. В настоящее время коллектив "СПЕКТР-6" в составе НИИИН МНПО "СПЕКТР" входит в ассоциацию "Спектр-Групп", где в различных организационных формах объединены и представляют свои интересы ведущие научно-производственные фирмы России в области неразрушающего контроля и технической диагностики, а также организации, занимающиеся обучением специалистов, сертификацией, маркетингом и связями с зарубежными партнерами в данной отрасли. Такое объединение позволяет комплексно решать проблемы потребителей с максимальным использованием всего накопленного научного потенциала."
Предложения компании
Компактный, легкий, недорогой и простой в использовании детектор видеокамер Гранат предназначен для обнаружения скрыто установленных видеокамер.
Подробно >>
Оптико-электронный прибор Спин-2 предназначен для дистанционного обнаружения оптических и оптико-электронных средств, прицелов, длиннофокусных объекти...
Подробно >>
Нарко-3М предназначен для предварительного анализа твердых и жидких объектов, в которых подозревается наличие наркотических веществ, эксплуатируемое в...
Подробно >>
ФП-1-ТВ предназначено для визуализации внутренней структуры ручной клади, упаковок, пакетов, свертков и т.п. методом радиоскопического контроля при по...
Подробно >>
Досмотровый комплект ПОИСК-МР предназначен для досмотра труднодоступных мест транспортных средств и других объектов в условиях малой освещенности и по...
Подробно >>
|